实时功率参考
精确的WDL / PDL特性测量
高功率重复性<±0.02 dB
高PDL重复性±0.01 dB
波长分辨率高，精度高
多通道测量可用
方便设置测量参数
数据分析
概述：
Santec的扫频测试系统旨在简化光子测试，提供完整的解决方案，其中高速分析，高分辨率和准确性是关键。将Santec的可调谐激光器(TSL-770或TSL-570)与光功率计(MPM-210H)、偏振控制单元(PCU-110)和定制软件相结合，完整的扫描测试系统优化了WDL和PDL测量，可用于研发和生产环境。
采用实时参考，同时从可调谐激光器获取输出功率和通过DUT传输的光功率，系统使用Mueller矩阵方法提供高精度的WDL和PDL分析。过度采样和重新缩放算法用于最大限度地提高测试吞吐量，同时保持测量完整性。
Santec MPM-210H功率计主机可以与4通道电流计模块MPM-213一起使用。扫描测试系统与MPM-210H和MPM-213相结合，适用于使用收发器式光电二极管(ROSA/相干接收器等)或光通道监视器测量光纤元件的性能。
